无尘车间防静电地板的洁净度指标,核心是发尘量、表面洁净度、材料析出物与静电洁净协同,并匹配车间 ISO 14644-1 等级(GB 50073-2013)。
ISO Class 3(百级):≤0.1 μg/m³/h(半导体高端)
ISO Class 5(百级):≤1.0 μg/m³/h(通用百级)
ISO Class 7(万级):≤5.0 μg/m³/h(电子组装)
测试:ISO 14644-8,密闭舱 24h 粒子释放
表面无粉化、起砂、裂纹、颗粒脱落
表面粗糙度Ra ≤ 0.8 μm(易清洁、少积尘)
洁净擦拭:Class 100 无尘布擦拭无可见尘、无纤维脱落
SEMI F72:无有机析出物(TOC<10 μg/m²)
离子析出:Cl⁻、Na⁺、K⁺<1 μg/cm²
无硅 / 无氨:避免污染光刻与敏感试剂
表面电阻率:1×10⁵~1×10¹² Ω/□(GB 50073)
摩擦电压:<50 V(EOS/ESD S20.20)
静电衰减:<0.1 s(IEC 61340-5-1)
(静电不达标会吸附尘埃,破坏洁净度)
PVC 防静电地板:ISO 7~8,发尘低、无缝、易清洁
环氧自流平(防静电):ISO 5~7,整体无缝、Ra≤0.8 μm
陶瓷防静电地板:ISO 6~7,耐磨、不起尘、耐化学品
铝合金 / 不锈钢高架地板:ISO 3~5,超高洁净、无析出、导电稳定
发尘量测试(ISO 14644-8)
表面电阻 / 接地电阻(温湿度 23±2℃,50±5% RH)
擦拭测试:无尘布擦拭后无可见尘、无纤维
析出物:SEMI F72 或离子色谱检测
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
ISO 14644-1/-8 洁净室分级与发尘测试
SEMI F72 半导体材料析出物标准
IEC 61340-5-1 静电防护标准
